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氣體發(fā)生器之所以迅速成為許多實(shí)驗(yàn)室的供氣設(shè)備，原因有很多，zui重要的原因之一是氣體發(fā)生器可以方便地進(jìn)行無(wú)限制的連續(xù)供氣，這與傳統(tǒng)的通過(guò)預(yù)填氣罐/瓶供氣恰好相反，因?yàn)轭A(yù)填氣罐/瓶?jī)?nèi)的氣體是會(huì)用完的。涉及到氣體，另一個(gè)需要考慮的問(wèn)題就是安全性。氣體發(fā)生器使得分析者可以連續(xù)地制備氣體，因此無(wú)需將氣體儲(chǔ)存在容器中，因?yàn)槿萜魅绻孤兜脑挄?huì)發(fā)生危險(xiǎn)。氣體發(fā)生器的干燥過(guò)濾裝置：1）吊裝式：凈化管的進(jìn)氣口和出氣口都分布在機(jī)器的頂部，出管口向下，從電解池或者壓縮機(jī)過(guò)來(lái)的氣體首先從端蓋中間的進(jìn)...

聲掃顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，它是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，是工業(yè)部門(mén)鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備，該儀器配用攝像裝置，可攝取金相圖譜，并對(duì)圖譜進(jìn)行測(cè)量分析，對(duì)圖象進(jìn)行編輯、輸出、存儲(chǔ)、管理等功能。聲掃顯微鏡是將光學(xué)顯微鏡技術(shù)、光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開(kāi)發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計(jì)算機(jī)上很方便地觀察金相圖像，從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析，評(píng)級(jí)等以及對(duì)圖片進(jìn)行輸出、打印。*，合金的成分、熱處理工藝、冷熱加工工藝直接影響金屬材料的內(nèi)部組織、結(jié)構(gòu)的變化，...

無(wú)損檢測(cè)NDT，就是利用聲、光、磁和電等特性，在不損害或不影響被檢對(duì)象使用性能的前提下，檢測(cè)被檢對(duì)象中是否存在缺陷或不均勻性，給出缺陷的大小、位置、性質(zhì)和數(shù)量等信息，進(jìn)而判定被檢對(duì)象所處技術(shù)狀態(tài)（如合格與否、剩余壽命等）的所有技術(shù)手段的總稱(chēng)。在鋼結(jié)構(gòu)檢測(cè)中，無(wú)損檢測(cè)發(fā)揮重要的作用。一、射線無(wú)損檢測(cè)射線無(wú)損檢測(cè)優(yōu)點(diǎn)：1.可直觀顯示缺陷形狀和尺寸,檢測(cè)結(jié)果便于長(zhǎng)期保存2.對(duì)內(nèi)部體積性缺陷有很高靈敏度3.適用于結(jié)構(gòu)件原位檢測(cè)，不需大的拆卸射線無(wú)損檢測(cè)缺點(diǎn)：1.射線對(duì)人員有損傷作用,...

超聲波探傷儀是采用先進(jìn)的數(shù)字集成和人工智能技術(shù)，是具有水準(zhǔn)的便攜式全數(shù)字智能超聲波探傷儀。可用于檢測(cè)各種材料內(nèi)部的缺陷，如鋼、銅、鋁、硬質(zhì)合金、鑄件、有機(jī)玻璃、復(fù)合材料、和焊縫等等，可有效檢測(cè)出氣孔、裂紋、疏松、夾雜、未焊透等缺陷，功能全面實(shí)用，是真正的筆記本式數(shù)字超聲波探傷儀。應(yīng)用領(lǐng)域涉及航天、軍工、化工、電力、鋼鐵、治金、鐵道、火車(chē)、汽車(chē)、摩托車(chē)、機(jī)械、安檢、管道、建筑等行業(yè)。超聲波探傷儀功能：1、增益補(bǔ)償：對(duì)表面粗糙度、曲面、厚工件遠(yuǎn)距離探傷等因素造成的Db衰減可進(jìn)行修...

氣體發(fā)生器根據(jù)點(diǎn)催化法進(jìn)行空氣分離原理制成的。其中電解池是利用燃料電池的逆過(guò)程設(shè)計(jì)而成。當(dāng)作為壓力穩(wěn)定且純凈的原料空氣進(jìn)入到電解池中，空氣中的氧在陽(yáng)極被吸附而獲得電子并與水作用生成氫氧根離子并遷移到陽(yáng)極，zui后在陽(yáng)極處失去電子析出氧氣，因此空氣中的氧不斷被分離只留下氮?dú)?。并隨氣路輸出。氣體發(fā)生器使用注意事項(xiàng)：1、為了確保氣體純度，氣體發(fā)生器每工作1000小時(shí)，需要更換活性炭一次（活性碳為20-40目，鉛筆芯式）；2、氣體發(fā)生器工作過(guò)程中壓縮機(jī)不啟動(dòng)，熱保護(hù)繼電器啟動(dòng)，說(shuō)明壓...

超聲波掃描顯微鏡，英文是：ScanningAcousticMicroscope，簡(jiǎn)稱(chēng)SAM，由于它的主要工作模式是C模式，因此也簡(jiǎn)稱(chēng)：C-SAM?，F(xiàn)在做失效分析的實(shí)驗(yàn)室里，這個(gè)設(shè)備直接被通稱(chēng)為C-SAM，就像X射線透射機(jī)被通稱(chēng)為X-Ray一樣。超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式：基于超聲波脈沖反射和透射模式工作的。反射模式是主要的工作模式，它的特點(diǎn)是分辨率高，對(duì)待測(cè)樣品厚度的沒(méi)有限制。透射模式只在半導(dǎo)體企業(yè)中用作器件篩選。超聲顯微鏡的核心就是帶壓電陶瓷的微波鏈，壓電陶瓷在射頻信號(hào)...

無(wú)損檢測(cè)是指在不破壞或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用功能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。相對(duì)比其他檢測(cè)，無(wú)損檢測(cè)有如下特性：1、非破壞性無(wú)損檢測(cè)可以在獲得檢測(cè)結(jié)果的同時(shí)不損壞樣品本身。無(wú)損檢測(cè)既可普遍檢查，也可以進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)，檢測(cè)規(guī)模具有靈活性。2、互容性即指檢驗(yàn)方法的互容性，即同一零件可以先用無(wú)損檢測(cè)，再進(jìn)行其他檢測(cè)，互不影響。3、全面性由于無(wú)損檢測(cè)是非破壞性，因此必要時(shí)可對(duì)被檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行100%的全面檢測(cè)...

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？想要了解超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域又哪些需要先了解超聲波掃描顯微鏡是什么，它是新一代的超聲測(cè)試設(shè)備所屬光學(xué)儀器的一種，可以在生產(chǎn)線中使用手工掃描的方法來(lái)檢測(cè)器件的缺陷等問(wèn)題。超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域：（1）在半導(dǎo)體及太陽(yáng)能晶錠材料上的應(yīng)用：分析晶錠內(nèi)部缺陷等。（2）在半導(dǎo)體Wafer和太陽(yáng)能晶圓上的應(yīng)用：涂覆后和印刷后晶圓片上的分層缺陷等。（3）在半導(dǎo)體封裝檢測(cè)上的應(yīng)用：塑封層、芯片頂部、芯片粘接層、導(dǎo)線框、BGA樣品以及FlipChipU...